EMPOS spol.s r.o.
měřící technika a technika ionizujícího záření
Vyhledávání
Elektrické a fyzikální veličiny
-
![[.]](./grafika/style/icon-menu-no-child.gif)
4 - kvadrantové zdroje / zesilovače -
![[+]](./grafika/style/icon-menu-closed.gif)
AVIONICS přístroje -
Analyzátory rozvodné sítě -
EMC přístroje a systémy -
Elektromagnetické pole -
Elektronické zátěže -
![[-]](./grafika/style/icon-menu-open.gif)
Fyzikální veličiny -
Generátory audio, funkční a arbitrary -
Impulzní reflektometry -
Kalibrátory -
Měřicí přístroje -
Napájecí zdroje -
Osciloskopy -
PSV měřiče -
Páječky a SMT pracoviště -
Radiokomunikace -
Revizní přístroje -
Signální generátory -
Spektrální / signální analyzátory -
Telekomunikace -
VF / MV přístroje a systémy -
VF komponenty -
Zesilovače -
Zkušební VN zdroje -
Šňůry a příslušenství
Detail produktu FLUKE 52 II
FLUKE 52 II
Orientační cena bez DPH: na dotaz na emailu info@empos.cz
Popis:
Rozsah dle sond -250 °C až 1767 °C dle typu článku; 2 kanály, čidla J, K, T, E; T1, T2, T1-T2, T2-T1, čas, MIN, MAX a AVG,
Přílohy:
 |
specifikace.pdf | 189.12 kB |
